Előnyök

Felületek pontos szkennelése

A kromatikus mérési elv alacsony mérési eltéréseket és a felületi tulajdonságoktól való nagyfokú függetlenséget biztosít. A szkennelés során rövid idő alatt sok mérési pont kerül rögzítésre, mely az alkalmazások széles körét eredményezi, még a mérési bizonytalansággal és a mérési idővel szemben támasztott magas követelmények mellett is. Szigorúan tűrésezett méretek, valamint alak és érdesség mérhetőek.

További előnyök

Érzékeny és rugalmas munkadarabok mérése.
A szenzor nagy mérési tartományai lehetővé teszik a gyors szkennelést a mérőgép tengelyeinek elmozdítása nélkül, és így még rövidebb mérési időt tesznek lehetővé.
Fényvisszaverő vagy átlátszó felületek mérése is lehetséges.
Az átlátszó anyagok rétegvastagsága is mérhető (opció).