A legkisebb geometriák mérése a legnagyobb pontossággal

A Werth Interferometer Probe – WIP egy érintésmentes száloptikai szenzor a geometria, az alak és az érdesség nagy pontosságú mérésére. A tapintó geometriák egyedileg igazíthatók a munkadarab felszínének letapogatásához szükséges kilépési szögek tekintetében. A kis tapintóméreteknek köszönhetően a WIP különösen alkalmas a kicsi, nehezen hozzáférhető és mély geometriák mérésére, ennek köszönhetően a Werth speciális szakértelemmel rendelkezik a mikrogeometriák mérésében is.

További előnyök

Az RS változatban a WIP lehetővé teszi a nagy pontosságú körkörösségmérést egy forgatható tapintóval (szabadalom).
A szálak fémcsőben történő vezetésével a tapintók nagy hosszúságban is kínálhatók a nagy mérési mélységeknél.
A tapintó ferde szöge határozza meg a mérőnyaláb kilépési szögét 0° és 90° között, a 90°-os szögű tapintókat például kis furatok oldalsó felületeinek mérésére használják.

A fényvisszaverődéstől független és nagy pontosságú topográfiai mérések

A Nano Focus Probe segítségével a munkadarab felülete 3D pontfelhőként rögzíthető, és a mikrostruktúrák mérete, alakja, pozíciója és érdessége is kiértékelhető. A szórt fény szűrése lehetővé teszi a topográfia megbízható 3D mérését még a fényvisszaverő felületek esetében is, a szubmikrométeres tartományba eső mérési hibákkal. A konfokális optikai szenzor a nagy dőlésszögű meredek oldalakon is jó eredményeket nyújt.

További előnyök

A különböző objektívek lehetővé teszik, hogy a szenzor az adott feladathoz igazodjon.
A koordinátamérőgép teljes mérési térfogatában használható, és a mérési eredmények ugyanabban a koordinátarendszerben összekapcsolhatóak.
A teljes felületet több, egymás melletti részleges pontfelhőből lehet kiszámítani szinte pontosságvesztés nélkül.

Felületek pontos és gyors szkennelése

A Chromatic Focus Line szenzor a nagyon sok kromatikus fókuszpont vonalszerű elrendezésének köszönhetően rendkívül gyors (akár egymillió mérési pont kevesebb mint három másodperc alatt) lehetővé teszi a mérési értékek rendkívül gyors rögzítését. A kromatikus mérési elv alacsony mérési eltéréseket és a felületi tulajdonságoktól való nagyfokú függetlenséget biztosít. Az alkalmazási területek közé tartoznak a szétszórtan tükröződő, valamint a tükröződő és átlátszó munkadarabok.

További előnyök

A mérési bizonytalanság és a mérési tartomány hozzáigazítása az adott alkalmazáshoz különböző lencsékkel.
A nagy, tengelyirányú mérési tartomány miatt gyakran nem szükséges a készülék tengelyeinek a munkadarab geometriájához való követése.
A munkadarab felületéről gyorsan elkészíthető raszteres kép lehetővé teszi helyi koordináta mérőrendszerek kialakítását a további mérésekhez más érzékelőkkel.
Az átlátszó anyagok rétegvastagsága is mérhető (opció).

Nagy pontosságú mérések a szenzor mindhárom térbeli irányban történő elmozdítása nélkül.

A több szenzor egyetlen multiszenzorba történő egyesítése a szenzorcsere ciklusok kiküszöbölése miatt szélesebb és könnyebb felhasználást és mérési időmegtakarítást kínál. A különböző érzékelési elvek révén a szabadalmaztatott CFZ nagyfokú rugalmassággal rendelkezik. A szenzoreltolás hiányának köszönhetően így gyakran kisebb – és költséghatékonyabb – mérőgép is elég a mérések elvégzéséhez.

További előnyök

Alacsony mérési hibák a telecentrikus zoomoptika nagy nagyítási tartományának köszönhetően.
Az intelligens kontúrkép feldolgozás több geometriai elemet és szabad formát ismer fel a mérőablakban.
A távolságmérés a kromatikus mérési elvnek köszönhetően nagymértékben független a felület tulajdonságaitól.
Gyors szenzorcsere mechanikus mozgás nélkül.
A kromatikus szenzornagy mérési tartománya lehetővé teszi a gyors szkennelést anélkül, hogy az szenzort a munkadarab irányába kellene mozgatni, és így még rövidebb mérési időt tesz lehetővé.
Az átlátszó anyagok rétegvastagsága is mérhető (opció).

Gazdaságos tapintásos mérés

A TP200 egy olcsó tapintó szenzor pontról pontra történő 3D méréshez. A tapintó rendszer a nyúlásmérő szerkezet segítségével rendkívül pontos méréseket tesz lehetővé, és teljes mértékben integrálódik a Werth multiszenzoros koncepciójába.

További előnyök

Gyorsan cserélhető tapintómodulok standard tapintóerővel (SF) és alacsony tapintóerővel (LF)
SF tapintó modulok alkalmazása: általános mérési feladatok szabványos tapintókkal
LF tapintó modulok alkalmazása: kis átmérőjű tapintófej használatakor és érzékeny anyagok méréséhez
Kombinálható a 3 vagy 6 tárhelyes MCR20 tapintócserélő állomással a tapintórendszerek gyors és egyszerű cseréjéhez időigényes újra kalibrálás nélkül.

Felületek pontos szkennelése

A kromatikus mérési elv alacsony mérési eltéréseket és a felületi tulajdonságoktól való nagyfokú függetlenséget biztosít. A szkennelés során rövid idő alatt sok mérési pont kerül rögzítésre, mely az alkalmazások széles körét eredményezi, még a mérési bizonytalansággal és a mérési idővel szemben támasztott magas követelmények mellett is. Szigorúan tűrésezett méretek, valamint alak és érdesség mérhetőek.

További előnyök

Érzékeny és rugalmas munkadarabok mérése.
A szenzor nagy mérési tartományai lehetővé teszik a gyors szkennelést a mérőgép tengelyeinek elmozdítása nélkül, és így még rövidebb mérési időt tesznek lehetővé.
Fényvisszaverő vagy átlátszó felületek mérése is lehetséges.
Az átlátszó anyagok rétegvastagsága is mérhető (opció).

Az érdesség, a hullámosság és a kontúr rugalmas mérése

A Werth Contour Probe a multiszenzoros koordinátamérőgépen olyan feladatokat is megoldhat, amelyek korábban a kontúrmérő eszközök számára voltak fenntartva. Ez a szenzor először teszi lehetővé a tapintható kontúrmérést a meghatározott munkadarab-koordinátákban. A klasszikus tapintós rendszerekkel ellentétben a WCP speciális vezetőrendszere lehetővé teszi a szkennelést bármilyen irányban.

További előnyök

A munkadarab újbóli befogása nélkül CNC-vezérléssel is mérhető az érdesség és a kontúr A WinWerth® mérőszoftverbe integrált érdesség-adatbázis segítségével a szabványoknak megfelelően kiszámíthatók az érdességi értékek.
A WCP szenzor CNC-vezérléssel cserélhető egy tapintótáron keresztül.

Komplex felületi topográfiák egyszerű optikai mérése

A 3D-Patch a fókuszváltoztatás elvén alapuló területszenzor, amely a szenzor paramétereinek a munkadarab megfelelő felületi tulajdonságaihoz való automatikus hozzáigazításával működik. Az optikai szenzor lehetővé teszi a felületek gyors 3D-s névleges-tényleges összehasonlítását vagy tisztán csak a dimenzionális értékeléseket. A 3D Patch-csel még a kis területeket is nagy oldalsó felbontással lehet optikailag megmérni.

További előnyök

A HDR funkció lehetővé teszi a különböző expozíciós idejű képhalmazok rögzítését és az egyenetlenül tükröződő felületek mérését.
Intelligens szoftverfunkciók állnak rendelkezésre az expozíciós idők optimális beállításához.
A szűrőopciók széles választéka biztosítja a reprodukálható és megbízható eredményeket.
A vezérlőgeometria elemeinek kiszámítása automatikus szegmentálással lehetséges.

Akár nagyobb felületek gyors digitalizálása

Az LLP lézervonal szenzorral egy lézervonalat (fényszelvényt) vetítenek a vizsgált tárgy felületére, és a háromszögelési eljárásnak megfelelően értékelik azt ki. Ez az érintésmentes szenzor lehetővé teszi a nagyméretű, durvább tűréshatárokkal rendelkező munkadarabok gyors mérését is. Az alkalmazás ezért nagyrészt a szabadforma felületek, elsősorban esztétikai szempontok szerint kialakított ház- és burkolati elemekre koncentrálódik.

További előnyök

A felület domborzatának nagy pontsűrűségű meghatározása.
Az automatikus intenzitásszabályozás és az intelligens szoftver lehetővé teszi a legkülönbözőbb felületek kényelmes és megbízható mérését.
Magas mérési frekvenciák még fényes és erősen fényelnyelő felületek esetén is.
Az LLP a PH10M mérőfejjel együtt forgatható és dönthető és más szenzorokra cserélhető.