Werth Laser Probe WLP

Lézeres távolságszenzor a Foucault-elv alapján

Felületek nagy pontosságú szkennelése

A hagyományos háromszögelési szenzorokkal a mérési eredmény nagymértékben függ a felület szerkezetétől és dőlésszögétől. Ez viszonylag nagy mérési bizonytalanságokhoz vezet, ami csak kevésbé pontos mérési feladatokhoz teszi lehetővé a szenzor használatát. A Werth Zoom sugárútjába integrált WLP (szabadalmaztatott) Foucault-lézerszenzorral jobb eredmények érhetők el. Ez különösen alkalmas az akár 80°-kal megdöntött felületek vagy ennek megfelelően ívelt felületek gyors síklapúság mérésére.

Előnyök

Felületek nagy pontosságú szkennelése

A hagyományos háromszögelési szenzorokkal a mérési eredmény nagymértékben függ a felület szerkezetétől és dőlésszögétől. Ez viszonylag nagy mérési bizonytalanságokhoz vezet, ami csak kevésbé pontos mérési feladatokhoz teszi lehetővé a szenzor használatát. A Werth Zoom sugárútjába integrált WLP (szabadalmaztatott) Foucault-lézerszenzorral jobb eredmények érhetők el. Ez különösen alkalmas az akár 80°-kal megdöntött felületek vagy ennek megfelelően ívelt felületek gyors síklapúság mérésére.

További előnyök

Különleges kialakításának köszönhetően a Werth Laser Probe egyedülálló Foucault-elve olyan alkalmazási lehetőségeket kínál, amelyek túlmutatnak a tipikus TTL (Through The Lens – lencsén keresztüli) lézerek korlátain.
A WLP közvetlenül a képalkotó szenzor sugárútjába van integrálva, így nagyon gyors szenzorváltás lehetséges.
Mérési üzemmódban a lézeres szkennelés vizuálisan nagyon jól megfigyelhető.
Nagy mérési sebesség kontúrok vagy felületi profilok szkennelésekor.

Loading...

Előnyök

Felületek nagy pontosságú szkennelése

A hagyományos háromszögelési szenzorokkal a mérési eredmény nagymértékben függ a felület szerkezetétől és dőlésszögétől. Ez viszonylag nagy mérési bizonytalanságokhoz vezet, ami csak kevésbé pontos mérési feladatokhoz teszi lehetővé a szenzor használatát. A Werth Zoom sugárútjába integrált WLP (szabadalmaztatott) Foucault-lézerszenzorral jobb eredmények érhetők el. Ez különösen alkalmas az akár 80°-kal megdöntött felületek vagy ennek megfelelően ívelt felületek gyors síklapúság mérésére.

További előnyök

Különleges kialakításának köszönhetően a Werth Laser Probe egyedülálló Foucault-elve olyan alkalmazási lehetőségeket kínál, amelyek túlmutatnak a tipikus TTL (Through The Lens – lencsén keresztüli) lézerek korlátain.
A WLP közvetlenül a képalkotó szenzor sugárútjába van integrálva, így nagyon gyors szenzorváltás lehetséges.
Mérési üzemmódban a lézeres szkennelés vizuálisan nagyon jól megfigyelhető.
Nagy mérési sebesség kontúrok vagy felületi profilok szkennelésekor.

Reviews

There are no reviews yet.

Be the first to review “Werth Laser Probe WLP”

Az e-mail címet nem tesszük közzé. A kötelező mezőket * karakterrel jelöltük

Kapcsolódó szolgáltatások

Scroll to Top

Forduljon hozzánk kérdésével!

Szakértői csapatunk örömmel válaszol bármilyen felmerülő kérdésre!

A csillaggal (*) jelölt mezők kitöltése kötelező!

Forduljon hozzánk kérdésével!

Szakértői csapatunk örömmel válaszol bármilyen felmerülő kérdésre!

A csillaggal (*) jelölt mezők kitöltése kötelező!